內(nèi)窺鏡的檢測(cè)與判定規(guī)則
日期：2025-12-09 08:19
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摘要：(1)裂紋。當(dāng)光束照射被檢測(cè)物表面，觀察到黑色或者亮色線條，且在一定的放大倍數(shù)下，線條有不規(guī)則邊緣時(shí)，判定為裂紋。當(dāng)裂紋較寬時(shí)，可測(cè)量探頭的測(cè)量影響線會(huì)發(fā)生彎折。
(2)起皮。當(dāng)光束平行照射時(shí)，觀察到在凸起部分背后有陰影；改變光束照射角度，則觀察到表面凸起部分與周圍被檢測(cè)物有明顯分界線，判定為起皮。
(3)拉線和劃痕。在光束照射下，觀察到表面存在較規(guī)則的連續(xù)長(zhǎng)線，判定為拉線。
(4)凹坑凸起。光束以一定角度照射時(shí)，與周圍被檢物邊界連接，無(wú)分界線。離光源近的部分有陰影，離光源遠(yuǎn)的地方有亮影，為凹坑。光束以一...
(1)裂紋。當(dāng)光束照射被檢測(cè)物表面，觀察到黑色或者亮色線條，且在一定的放大倍數(shù)下，線條有不規(guī)則邊緣時(shí)，判定為裂紋。當(dāng)裂紋較寬時(shí)，可測(cè)量探頭的測(cè)量影響線會(huì)發(fā)生彎折。
(2)起皮。當(dāng)光束平行照射時(shí)，觀察到在凸起部分背后有陰影；改變光束照射角度，則觀察到表面凸起部分與周圍被檢測(cè)物有明顯分界線，判定為起皮。
(3)拉線和劃痕。在光束照射下，觀察到表面存在較規(guī)則的連續(xù)長(zhǎng)線，判定為拉線。
(4)凹坑凸起。光束以一定角度照射時(shí)，與周圍被檢物邊界連接，無(wú)分界線。離光源近的部分有陰影，離光源遠(yuǎn)的地方有亮影，為凹坑。光束以一定角度照射時(shí)，與周圍被檢物邊界連接，無(wú)分界線。凸起部分有亮影，且背后陰影為凹坑。當(dāng)凹坑較深或凸起較高時(shí)，可測(cè)量探頭的測(cè)量線會(huì)發(fā)生彎折。
(5)斑點(diǎn)。在光束照射時(shí)，觀察到與周圍被檢物色澤不同的光滑無(wú)凹凸表面為斑點(diǎn)。
(2)起皮。當(dāng)光束平行照射時(shí)，觀察到在凸起部分背后有陰影；改變光束照射角度，則觀察到表面凸起部分與周圍被檢測(cè)物有明顯分界線，判定為起皮。
(3)拉線和劃痕。在光束照射下，觀察到表面存在較規(guī)則的連續(xù)長(zhǎng)線，判定為拉線。
(4)凹坑凸起。光束以一定角度照射時(shí)，與周圍被檢物邊界連接，無(wú)分界線。離光源近的部分有陰影，離光源遠(yuǎn)的地方有亮影，為凹坑。光束以一定角度照射時(shí)，與周圍被檢物邊界連接，無(wú)分界線。凸起部分有亮影，且背后陰影為凹坑。當(dāng)凹坑較深或凸起較高時(shí)，可測(cè)量探頭的測(cè)量線會(huì)發(fā)生彎折。
(5)斑點(diǎn)。在光束照射時(shí)，觀察到與周圍被檢物色澤不同的光滑無(wú)凹凸表面為斑點(diǎn)。
